我们的先进的针尖基接触三维表面轮廓仪NanoMap-LS是传统的接触式表面轮廓仪和扫描探针显微镜(SPM) 完美的的结合，允许产生扫描区高分辨的二维及三维图像(Z轴范围从nm到1mm)。
它产生详细的三维和二维图像达到150x150mm扫描面积。它利用优越的可重复性、超低力允许它测量任何种类材料的表面形貌。广泛地用于科研和生产环境。数据分析SPIP软件是工业上最有用的软件，广大用户能够做各种应用的表面分析。单方面说，NanoMap-500LS类似于AFM，但有非常大的扫描面积，拥有更多的用途。
特征,
▪ 产生三维和二维图像
▪ Z轴范围nm到1mm
▪ XY扫描范围达到150x150mm
▪ 简单的两种关键操作，用户友好的软件界面
▪ 集成的彩色光学相机，在扫描过程中可直接评论样品。
应用
▪ 台阶高度测量
▪ 表面粗糙测量
▪ 定量的抓和挖的特征，呈现深度、宽度和体积
▪ 平面或曲率的测量
▪ 二维薄膜应力测量
▪ 表面轮廓- 缺陷、形貌等