产品特点：
超高采样分辨率和定位精度
采样分辨率1 μm
回损测量范围-10 dB~90 dB
可定制引纤长度，便于匹配实际测量环境
可定制扫描测量长度
支持多通道测量升级
产品应用：
光纤微裂纹检测
硅光芯片、PLC波导瑕疵损耗检测
FA光纤阵列链路性能检测
光器件、光模块内部耦合点、连接点性能检测
产品参数：
主要参数 | ||
基础参数 | ||
工作波长1 | 1290~1330/1530~1570 | nm |
测量长度2 | 6 12 45 90 | cm |
采样分辨率 | 1 | μm |
定位精度 | 0.3 | mm |
测量时间3 | <10s <30s | s |
回损测量范围 | -20~-100 | dB |
回损重复精度 | ±3 | dB |
硬件 | ||
输入电压 | AC 220/110V；DC 12V | - |
主机功率 | 60 | w |
通讯接口 | USB | - |
引纤长度4 | 1 | m |
光纤接口 | FC/APC | - |
尺寸 | W 345 * D 390 * H 165 | mm |
重量 | 7.5 | kg |
储藏温度 | 0~50 | ℃ |
工作温度 | 0~40 | ℃ |
工作湿度 | 10~70 | %RH |
备注： 1.可选其它波段； 2.可定制其他长度；3.测量时间与测试长度相关 4.引纤长度可定制。