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光功率计

 

X-Cite®光功率测量系统包括X-Cite®XR2100功率计和X-Cite®XP750物体平面功率传感器。是为测量样本的光功率而设计的,X-Cite®XP750 外形小巧别致,专门设计用于显微镜载物台;既包括正置显微镜也包括倒置显微镜,具有多种功能,可以对 X-Cite® 照明器或其他任何落射荧光灯光源的输出进行测量,这些光源包括 HBO/汞、金属卤化物灯、氙灯、激光器和发光二极管等。对于一系列广泛的应用和显微镜配置,XP750 都能高效地发挥作用,其功率敏感度级别为 5µW 到 500mW,波长为 320nm 到 750nm。通过全新的 XR2100 和 XP750,研究人员便可以测量样本的光功率,从而在整个实验过程中提供一致且可重复的照明。这款产品远比标准的功率计好得多,因为它能够出色配合载玻片插板并将光传感器放置在物体焦平面上。

XR2100 采用控制键接口,可将功率测量结果轻松储存到自身的单元,或者通过计算机直接下载到可以导出的数据文件。由于研究人员可以方便地从台式计算机管理设置和数据,因此能够同时维护可以导出的数据文件和成像数据,从而提供符合良好实验室规范的完整实验记录。借助全新的 X-Cite® XR2100 和 XP750,研究人员即可通过简明直观、功能强大的测量系统在整个研究实验中实现出色的可重复性和效率。

特征

优点

X-Cite® XP750 & XR2100

小巧的显微镜载玻片尺寸

可容纳的一个标准显微镜夹子,方便直接从物镜测量光,没有移除或重新配置设备

与灯、激光器和LED光源兼容

经济地使用一个系统为多个显微镜服务,不管照明技术

大的探测表面:10mm

适合用于低和高倍物镜

没有聚焦要求

很快获得精确测量

宽范围的波长和功率

适合用于充分范围的应用和显微镜配置

校准源于NIST/NRC标准

在结果的精确性上获得质量保证和信任

X-Cite® XR2100

有背照明的LCD显示

清晰地评论数据,即使在显微镜成像室暗淡的光照条件下

经物体平面传感器或光导两个输入口测量功率

有选择性地监测整个显微镜或单个元件的光源性能

校准源于NIST

在结果的精确性上获得质量保证和信任

单钮/点击数据采集、存储和输出

由精确、无纸传输数据记录有条理地保存数据

PC界面

经PC方便地管理环境和数据

与X-Cite® exacte校准特征兼容

容易经光导或物体平面传感器校准X-Cite® exacte,用瓦来显示和设定功率

 

注意:必须与XR2100结合使用

XP750规格

包括

具有电缆的物体平面功率传感器/ X-Cite®XR2100接头

功率范围

5µW-500mW

测量分辨率

0.01µW-1mW

不确定性

±6%

响应时间

600ms(起始),3s(确保稳定的读数)

校准

源于NRC

波长范围

320nm-750nm

灯的类型/光源兼容性

X-Cite® exacte,X-Cite®120系列,汞/HBO,金属卤化物灯,氙灯,LED,激光器

物镜兼容性

4X-63X,空气耦合的,FOV直径小于10mm

显示

经X-Cite® XR2100

波长选择

1nm增量/在X-Cite® XR2100向下的按钮或PC界面

数据容量

经X-Cite® XR2100

PC控制

查看/改变设置,确定感兴趣的波长,记录多个物镜的数据/滤光片/强度设置,下载/输出存储的数据

指令协议

经X-Cite® XR2100

电源

经X-Cite® XR2100

重量

82g

尺寸(没有盖)

75mmx25mmx9mm

世界认证

经X-Cite® XR2100

保修

一年

专利

X-Cite®光功率测量系统包含的技术受下列专利保护:US6437861;US7335901