狭缝：
紧凑型高性能CCD光谱仪
QuestTM X 是B&W Tek推出的高性价CCD光谱仪。它采用高性能的线性CCD阵列检测器，内设温度补偿，光谱范围宽达200-1050nm，采用不同的狭缝，光谱分辨率可在0.5-3.0nm之间选择。QuestTM X在紫外/可见/近红外端均有着优异的表现，最宽达200-1050nm的光谱范围，是紫外，可见和短波近红外光谱应用的理想选择。
QuestTM X内设温度补偿，使热漂移降低至～15计数值/℃, 从而有效降低了基线漂移，稳定了动态范围。
QuestTM X读出速度高于2.0兆赫兹，像元数2048，内建16位数字转换，标配采用USB2.0高速数据传输，也可做成增强的串口RS232传输，包含外触发和同步功能，便于系统集成和开发。QuestTM X系列灵活的配置，将满足更多光谱应用需求和OEM客户的特殊要求。
应用:
紫外可见近红外光谱分析/辐射分光分析/分光光度分析及应用
波长检测
吸光度测量
反射率测量
OEM产品开发
• 热漂移～15计数值/℃
• 紫外-近红外波段(200nm - 1050nm)
• 0.5nm 光谱分辨率
• 16位数字分辨率
• 1ms 最小积分时间
• 2.0MHz读出速度
• 即插即用USB2.0接口
电源输入 | USB@0.35A |
检测器类型 | 响应增强线性CCD阵列 |
像元尺寸 | 2048@14um*200um |
光谱仪F/# | 3.6 |
光路 | Crossed Czerny-Turner |
动态范围 | 1300:1 |
数字分辨率 | 16-bit or 65535:1 |
读出速度 | >2.0 MHz |
数据传输速度 | 480张光谱/秒 |
积分时间 | 1-65535ms |
热漂移 | ~29 Counts/℃(Max) |
触发模式 | 外触发 |
操作温度 | 5-35℃ |
操作湿度 | 85%无冷凝 |
重量 | ~0.34kg |
尺寸 | 98*67*34mm |
电脑接口 | USB 1.1，USB 2.0，RS232（选配） |
操作系统 | Windows：XP 7，8，10(32位或64位) |
光路：
狭缝：
| 狭缝 | 尺寸（宽*高） | 分辨率 350-1050nm |
| 10um | 10um*1mm | ~1.0nm |
| 25um | 25um*1mm | ~1.5nm |
| 50um | 50um*1mm | ~2.2nm |
| 100um | 100um*1mm | ~4.0nm |
| 200um | 200um*1mm | 请电话咨询 |
光栅：
| 佳响应 | 光谱范围nm | 光栅 |
| 紫外/近红外 | 200-850 | 600/250 |
| 紫外/近红外 | 350-1050 | 600/400 |
| 可见 | 380-750 | 900/500 |
| 可见/近红外 | 550-1050 | 830/800 |
| 近红外 | 750-1050 | 1200/750 |