TE致冷CCD光谱仪

Glacier™ X是高性能的TE致冷线阵CCD光谱仪。与非致冷的CCD光谱仪相比,Glacier™ X可以提供更高的动态范围,更显著的降低光谱仪的噪声,更优异的长期稳定性,更适合微光检测和长时间连续监测等应用。它的最低检测波长可达200nm,最高可达1050nm。根据不同的配置,光谱分辨率0.6-4.0nm可选。灵活的配置及完备的应用支持,使其成为众多的微光检测、长时间光谱检测应用需求的理想选择。

Glacier™ X采用2048像元检测器,内建16位数字转换,高速USB2.0即插即用数据接口。

B&W Tek提供灵活的配置以满足不同的光谱分析应用需求OEM客户的特殊要求。
 

应用:

•  紫外可见近红外 光谱分析/辐射分光分析/分光光度分析及应用

•  长积分检测

•  吸光度测量

•  反射率测量

特征:

•  紫外-近红外波段
•  0.6nm - 4.0nm 光谱分辨率
•  TE致冷/控温
•  16位数字转换
•  500 kHz 读出速度
•  即插即用USB 2.0数据传输
•  提供OEM版本

电源输入

5V DC@<1.5A/100-240VAC 50/60Hz 0.5A@120VAC

检测器类型

响应增强线性CCD阵列

像元尺寸

2048@14um*200um

光谱仪F/#

3.2

光路

Crossed Czerny-Turner

动态范围

300:1

数字分辨率

16-bit or 65535:1

读出速度

500KHz

数据传输速度

180张光谱/秒

积分时间

5-65535ms 

触发模式

外触发

操作温度

15-35℃

操作湿度

85%无冷凝

致冷温度

14℃

重量

~0.6kg

尺寸

127*39*90.7mm

电脑接口

USB 2.0,USB 1.1

操作系统

Windows7,88.1(3264位)

光路:


光纤耦合:
采用SMA905光学接口直接将光纤和狭缝耦合,光信号通过光纤直接引导入光谱仪内部,确保检测数据的重复性。

狭缝:

狭缝尺寸(宽*高)分辨率 350-1050nm
10um10um*1mm~1.1nm
25um25um*1mm~1.4nm
50um50um*1mm~2.2nm
100um100um*1mm~4.3nm