偏振相关损耗测试仪 PDL-201

     

    产品简介：

     

        采用专利最大最小搜索技术，PDL测试仪能在30 ms内，同时测量待测器件的偏振相关损耗（PDL），插入损耗（IL）和光功率。使用扰偏法测量的PDL具有很高的不确定性。与这种方法不同，PolaCHEXTM有条理地搜索最大和最小透过率，确保了具有较高和较低PDL值的器件在任何时刻的测量精度，可获得最精确的PDL值。PolaCHEX覆盖了较宽的波长范围：1260~1650 nm，无需波长校准，比基于Mueller矩阵方法测得的PDL值更准确。它带有USB、以太网、GPIB和RS-232接口，用于电脑控制。能快速、精确测量与波长相关的无源器件的特性，尤其适用于制造或实验室中DWDM、光纤传感元件。与PDL-101相比，PDL-201具有较快的测量速度，较大的测量动态范围，更明亮的显示屏，以及用于集成的附加模拟输出端口。

     

    产品特性：        

    产品应用：

     

    Ø 30 ms的测量速度   

    Ø 较宽的波长范围  

    Ø PDL测量精度高        

    Ø PDL模拟输出 

    Ø 高亮的OLED屏

     

     

    Ø PDL，IL,光功率测量

    Ø DWDM器件特性测试

    Ø 光纤传感元件特性测试


    主要技术参数：

  • 波长：: 1260-1620 nm分辨率: 0.01 dBPDL 精确度1,2,3: 

    • ±(0.01 + 5% of PDL) (dB)

  • PDL 重复性1: ±(0.005 + 2% of PDL) (dB)PDL 动态范围4: 0 to 45 dBIL 精确度1,2,3: 

    • ±(0.01 + 5% of IL) (dB)

  • IL 重复性1: ±(0.005 dB + 2% of IL) (dB)IL 动态范围4: 0 to 45 dB输入光功率: 

    • -40 to 6 dBm

  • 光功率精度: ±0.25 dB波长校准( 功率测量): 1260-1360 nm ； 1440-1620 nm测量速度: 

    • 30 ms/次 (input >-30 dBm)

  • 操作温度: 0 to 50℃存储温度: -20 to 70℃光连接器类型:光源、 DUT 输入: APC                     DUT输出: 自由空间适配器模拟输出: 0-4V PDL监控电压 (用户自定义PDL范围)               (0-3.5V PDL线性变化, 4V 指示低功率)电源供应: 100–240V

    • AC

  • , 50–60Hz通讯接口: USB, Ethernet, RS-232, and GPIB尺寸: 2U, 19” 半架宽度 3.5" (H) × 8.5" (W) × 14" (L)备注:数据在23±5°C温度下，10组平均值所得。精确的偏振相关损耗测试还取决于测试设置。输入功率 ≥0 dBm，用户自定义功率计测量模式。