产品概述

        Photon RT UV-VIS-MWIR分光光度计用于光学元件的无人值守测试，可自动在不同角度对光学元件进行各种偏振态的透过率和绝对反射率测试，不需要额外添加附件。

        偏光和分光立方体

        宽带增透膜

        激光平面镜和标准平面镜

        不同形状和设计的棱镜和楔形镜

        干涉滤光片:

        长波通

        短波通

        二向色滤光片

        多波段镀膜

        快速的光栅切换，使扫描时间大幅缩短，以185-3500nm的测试范围为例，在扫描步进间距2nm，每个点重复测试次数20的设置下，扫描测试时间仅为6分钟。

        测试范围最宽可达185-5200nm（不同型号机型对应起偏器的覆盖范围请见配置清单）

        常规卤素灯在5000nm附近能量波动明显，导致基线不稳定，测试精度和重复性较差，Photon RT采用特殊的红外光源，使基线在5000nm左右依然稳定。

         内置宽波段，预校准的起偏器，用户可自定义S:P比率，起偏器可覆盖220nm-5200nm（不同型号机型对应起偏器的覆盖范围请见配置清单）

         样品台、探测器转台和探测器底座可独立旋转，实现多角度以及特殊角度的测试。

         具有探测器自动横向位移功能，探测器横向位移60mm，在进行厚样品轴外透过率测试时，可根据样品的厚度、折射率自动计算出光线偏折，并进行探测器位置补偿。在进行复杂的棱镜测试时，操作人员根据样品内部结构计算光线出射方向及位置，在软件端输入探测器角度和横向移动位置，使传感器接收到棱镜的出射光。

        多功能样品台：

        除标准样品台以外，新增批量测试样品台，XY轴可调样品台和Z轴可调样品台。

        批量测试样品台

        样品直径1”或30mm （可定制其它尺寸）

        装载样品时空置一个孔位用于基线校准，可实现在不开仓情况下进行基线校准和批量检测。

        XY轴可调样品台

        最大样品尺寸40×44mm

        XY轴位移范围：±12.5mm

        样品孔位侧面预留校准孔位，可实现不开仓的基线校准和检测。

        Z轴可调样品台

        最大检测样品尺寸：140mm

        Z轴可同时旋转和横向移动，在基线校准时，样品自动移出测试光路外，基线校准完成后，样品移入测试光路。从而使得系统可以在不开仓的情况下进行校准和测试。

       内置氮气吹扫管道

       1.200nm以下的测试，氮气吹扫可减少氧气和有机溶剂的吸收效应

       2.2550-2800nm的测试，可减少水蒸气和二氧化碳气体的吸收

       3.4200-4300nm的测试，可减少二氧化碳气体的吸收

       4.连续工作在紫外波段时，可保护光学元件

       测试曲线示例：

       基线稳定性

上图记录了Photon RT在紫外到中波红外波段基线的时间稳定性

       中波红外测试

PHOTON RT 非常适合于快速增长的对中波红外镀膜（高级激光系统和热成像仪器）进行精确测量的需求，包括标准的 AOI 测试，以及在不同角度和偏振态下的测量。

        复折射率测试

内置的专利软件可对单层均质膜的复折射率和膜层厚度进行连续快速计算。

上图显示了Nb2O5膜层的复折射率以及膜层厚度（490nm）测试结果，该膜层通过离子溅射技术产生。

         多角度与偏振态测试

内置高对比度宽带起偏器，能在短时间内实现不同角度和偏振态的无人值守测试。

         分光立方棱镜的偏振态测试

偏振分光棱镜是目前在市场上应用广泛，在测量上仍具有挑战性的光学元件之一。上图所示为一个前表面未镀膜的偏振分光棱镜的测试曲线。

         定性和定量的膜层分析

分析报告与合格报告—软件可帮助光学工作者一键完成对诸如截止滤光片和窄带滤光片等典型膜层的定性与定量分析，如半波带宽、1/10带宽、平均值、最高值等，并可对膜层 选行合格认证（用户给定合格条件），并即时生成分析的数据报告。

        产品功能

        用于光学元件的无人值守测试，可自动在不同角度对光学元件进行各种偏振态的透过率和绝对反射率测试。

        产品参数