薄膜测量

该系统为单层膜测量提供了所需的测量工具，包括反射探头和支架，可以测量的膜层厚度从 10 nm 到 50μm， 分辨率可达 1 nm，测量范围从紫外 / 可 见到近红外（200-1100 nm）。

典型应用领域
订购信息

AvaSpec—Thin Film

光谱仪 

AvaSpec-ULS2048CL-EVO

Grating UA (200-1100nm)
100 μm slit, DCL-UV/VIS-200

OSC-UA
AvaSoft-Thinfilm

光源

Avalight-DHc

 PS-12V/1.0A 

光纤

FCR-7UVIR200-2-ME


附件

THINFILM-STAGE 支架和标准板