光纤端面检测干涉仪VFI-200是一种干涉检测系统,用于检查切割或抛光光纤的表面质量和平整度。光纤端面检测干涉仪广泛用于科学实验,光纤生产等领域。

光纤端面检测干涉仪产生的清晰的光纤端面图像，提供两种工作模式-检测模式和条纹模式,用户只需一次插入就可以检查切割或抛光光纤端部的平整度和端部质量。

光纤端面检测干涉仪具有灵活的软件

配备软件可在条纹模式和检测模式之间切换,支持用户抓取并保存图像以备以后使用。内置报告生成器允许用户在一个报告中包含多达20个分割图像以及注释。其它功能包括–强度线轮廓、强度直方图、强度自动优化、端角估计、曲率半径估计、psuedo颜色渲染和存储图像的查看。

光纤端面检测干涉仪附加选项

光纤支架采用不锈钢精密设计，确保最高水平的精度和可重复性。光纤支架使用一个柔软但安全的磁性夹将光纤固定在一个对齐的V型槽中，提供可重复和可重复的结果。

光纤支架有多种尺寸，可适应各种不同的光纤直径，最大可达2毫米。我们也可以生产有角度的光纤支架，设计用于具有大解理角的光纤。有角度的固定器将光纤固定在指定的角度，以使劈裂角为零，从而为分析光纤端面特性提供了一个最佳平台。

我们还开发了一种新型的光纤固定器，即“双型”固定器，它与FGC光纤几何参数测量系统完全互通，用于测量标准和特种光纤的几何结构。

规格参数

视场：200微米

尺寸：240x240x90mm 

重量：3kg 

图像传感器：1/1.8英寸 CMOS,12bit,640万像素

相机传感器尺寸：3088x2076像素

条纹分辨率：2微米/条纹

最大帧频:>10fps

LED波长：525nm

连接接口：USB 3.0

工作温度：10~30℃

操作系统：Windows 7/8/10 64bit

计算机要求：2GB RAM, USB3.0接口，64bit系统

供电要求：12V