光纤折射率分布分析仪可测量光纤折射率分布剖面,而不需要在375nm~2um波长处切割,适合任意光纤折射率剖面测量。

多波长设计

不需要切割

亚微米空间分辨率

适合任意光纤类型

快速测量

折射率测量精度：+/-0.0001

空间分辨率：~500nm

测量波长：500nm ~1um 

适合光纤直径：40~400um

光纤材质：硅玻璃，非硅玻璃，塑料

同心度误差：+/-200nm 

纤芯非同心度误差：+/-0.4%

适合光纤种类：单模光纤，多模光纤，微结构化光纤，PCF光纤，保偏光纤，多芯光纤，稀土光纤，包层泵浦光纤，大模面积光纤，低弯曲损耗光纤，高Δ光纤等。