采用了特殊结构的半透镜,能高效地收集被测试样的反射光,并高效地导入分光光度计,可快速地完成低反射率样品的测量。

采用了特殊的光学结构,有效地避免了底面反射的影响,可直接测量未经处理的透明薄板的反射率。

T采用了512像素的线性PDA,16位A/D转换器,USB2.0接口,高速数据处理技术。

最大限度地提高了光纤到窄缝,以及调整机构的光量利用效率,可以快速地实现高再现性的测量。

测量点小(典型值为φ50μm),可直接测曲面,以及膜层的分布特性。

可用Excel文件格式保存测量数据。

可在同一窗口内,同时显示多个样品的测量结果(曲线),方便数据的对比分析。

技术指标

型号 SGRM-200R
测定波长范围 360 〜 800nm
样品侧N.A 0.13 (使用10倍物镜时)
测量光斑尺寸 约φ50μm(使用10倍物镜时)
样品的曲率半径 -2R 〜 -∞、+2R 〜 ∞
再现性精度 ±0.2% (360 〜 450nm)
±0.02% (450 〜 750nm)
±0.2% (750 〜 800nm)
显示分辨率 1nm
测量时间 数秒(受选定的采样时间影响)
外形尺寸 (W)230 × (H)530 × (D)460mm
工作温度范围 18 〜 28℃
工作湿度范围 60%以下(无结露现象)
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