由于成本和密度较低，因此采用光学等级硅制作而成的TECHSPEC®硅(Si)窗口片成了应用于1.2 - 7μm光谱范围的热门产品。硅的密度很低（锗或硒化锌的一半），所以非常适合用于重量敏感的应用，特别是那些介于3-5μm范围之间的应用。其密度为2.329 g/cm3，努氏硬度则为1150。因此，它比锗更坚硬并且更加不易碎裂。

通用规格

有效孔径 (%):

90.00

尺寸容差 (mm):

+0.0/-0.1

热膨胀系数 CTE (10-6/°C):

2.55

密度 (g/cm3):

2.33

折射率 nd:

3.422 @ 5µm

努氏硬度 (kg/mm2) :

1150

平行度（弧分）:

<3

泊松比 :

0.265

基底:

Silicon (Si)

表面平整度:

1λ

表面质量:

60-40

厚度容差 (mm):

±0.1

杨氏模量 (GPa) :

140