基于Gd2O2S:Pr:Ce的陶瓷闪烁体在将X射线转换为光线方面具有很高的效率,其衰减时间(t1 / 10 = 5.5 us)短得足以允许以1 ms的间隔重复成像,磷光低, 辐射稳定性高。 由于这些特性的组合,它们已广泛用于医学计算机断层扫描中。 Gd2O2S 由于其宽的间隙(4.6-4.8eV),高化学稳定性和高密度,还可以生产用于彩色电视显像管,医疗成像设备和上转换发光的磷光体和闪烁陶瓷。 当前的GOS闪烁陶瓷作为用于X射线CT探测器应用的闪烁体材料非常有前途。
发光效率高 低余辉 高光输出 X射线吸收效率高参数
属性 数值 材料 Ge2O2S 密度g / cm3 7.34 晶体结构 六方晶体 晶格参数 a = b = 3.85827Å, c = 6.666659 Å 吸湿性 否 解离面 否 溶解度(g / 100gH2O) N/A 属性 数值 波长(最大发射)(nm) 510 波长范围(nm) 400-2000 衰减时间 5.5 宽间隙(eV) 4.6-4.8 发光强度(keV) 27.5 X射线衰减系数(cm-1) 52 at 70 keV 0.80 at 500 keV 相对光输出(%) 80 余辉(%) < 0.01