基于Gd2O2S:Pr:Ce的陶瓷闪烁体在将X射线转换为光线方面具有很高的效率,其衰减时间(t1 / 10 = 5.5 us)短得足以允许以1 ms的间隔重复成像,磷光低, 辐射稳定性高。 由于这些特性的组合,它们已广泛用于医学计算机断层扫描中。 Gd2O2S 由于其宽的间隙(4.6-4.8eV),高化学稳定性和高密度,还可以生产用于彩色电视显像管,医疗成像设备和上转换发光的磷光体和闪烁陶瓷。 当前的GOS闪烁陶瓷作为用于X射线CT探测器应用的闪烁体材料非常有前途。

参数

物理化学性质

属性数值
材料Ge2O2S
密度g / cm37.34
晶体结构六方晶体
晶格参数a = b = 3.85827Å, c = 6.666659 Å
吸湿性
解离面
溶解度(g / 100gH2O)N/A

闪烁性质

属性数值
波长(最大发射)(nm)510
波长范围(nm) 400-2000
衰减时间5.5
宽间隙(eV)4.6-4.8
发光强度(keV)27.5
X射线衰减系数(cm-1)52 at 70   keV
0.80 at 500 keV
相对光输出(%)80
余辉(%)< 0.01

谱图

  

特点