产品特点

      世界一流的光学性能

      标准版和高性能版

      AQ6370D共有2种机型,分别是标准版和高性能版。高性能版可以提供的波长精度更高、动态范围更大。

      高波长分辨率: 0.02nm

      高波长精度:±0.01nm

动态范围实例
峰值±1.0nm、分辨率设置0.05nm、
开启大动态测量模式、高性能版

      更陡峭的滤波边缘

      高性能版AQ6370C也可以实现更大的动态范围,在峰值波长的0.2nm之内。通过单色镜更陡峭的光谱特性,可有效分离极为相近的光谱信号,并进行精确测量。

光谱陡峭实例

      杂散光抑制率:80dB(典型值)

      此新规格提供了杂散光抑制功能,从而不需要扫描速度较慢的大动态测量模式。AQ6370C拥有高杂散光抑制率,可以大幅缩短测量时间。

杂散光抑制率实例
关闭大动态模式、分辨率设置0.1nm、高性能版

      宽功率量程:+20dBm~-90dBm

      AQ6370D可以测量高功率光源,如光放大器、拉曼放大器的泵浦激光源和微弱光信号。按照测试应用和测量速度的要求,可以从7种类别中选择测量灵敏度。

      自由空间输入

      一台OSA可同时处理多模和单模光纤

      处理多模光纤时,AQ6370D的低插入损耗有助于保持出色的测量效率。

      输入连接器的插入损耗变化小

      提高了测量重复性。

      非物理连接

      不会损坏连接的光纤。

      APC功率补偿

      使用APC功率补偿功能可以调整由APC连接器的插入损耗所引起的功率偏差。

      出色的效率

      快速测量:0.2秒/100nm

      通过先进的单色镜、更快的电路和降噪技术,AQ6370C可以在0.2秒内完成100nm波长跨度的测量,无论是来自DFB-LD或DWDM的陡谱信号测量,还是宽带光源的低功率信号测量。

      快速远程接口(以太网、GP-IB)

      宽跨度、高分辨率扫描

      在保持高波长分辨率的同时,单次扫描的测量范围可达50,001个数据采样点。这比传统系统的测量更简单、更有效率。

      操作简单

      曲线放大功能

      鼠标&键盘操作

      简单的数据处理

      USB存储

      USB接口支持大容量移动存储和硬盘存储。

      512MB内存

      可保存20,000多个波形数据

      多曲线一次保存功能

      可以将7条曲线即刻保存到一个文件中。

 

数据记录功能

      可以记录WDM分析(OSNR:光信噪比)、分布反馈激光二极管(DFB-LD)分析以及每通道多达10,000个点的多峰值测量(带时间标记)的结果。记录数据可以用表格和图形显示。非常适用于系统和器件的长期稳定性测试和温度循环性测试。并且,还可以将每次测量的光谱保存起来,以备回顾和故障排查之用。

Example of the data logging display

 

高级标记功能

      通过添加标记,可以得到功率密度和指定光谱的积分功率。通过这项新增功能,无论信号是否被调制过,都可以简单地从信号光谱中得到OSNR值。

Example of the advanced marker

 

门控采样功能

      此功能方便了光传输系统的再循环回路测试。通过外部门控信号,AQ6370D可以得到正通过某特定环路的信号的光谱。相比传统的外部触发或扫描功能,它的优势体现在具备更快的速度上。

 

分辨率校准功能

      用外部光源校准噪声等效带宽。通过这项新功能,宽谱光源的功率密度测量将变得更精确。

 

多种分析功能

      7 条独立曲线

      13项数据分析功能
      具有代表性的光谱分析功能有:

 

构建自动测试系统

      宏编程功能

      快速远程接口

 

易于确保精度

      环境条件变化、振东和冲击对光谱分析仪等光学精密产品的影响将波及光器件,最终导致光学性能降低。通过标配功能,AQ6370D只要花几分钟就可以获得更高的光学性能,便于快速开始测量。

 

典型应用

      AQ6370D的整体性能高,不但适用于光器件的生产和光传输系统,还可以用于研发及其它多种用途。

      DWDM系统的OSNR测量

      AQ6370D的大动态范围功能支持DWDM传输系统的精确OSNR测量(高达50GHz间隔)。通过内置WDM分析功能可以分析WDM信号,并同时显示多达1024路WDM信号的信道波长、信道功率和OSNR。

      光放大器(EDFA)测量

      ASE插值法用于测量光纤放大器评价中的增益、NF和主要参数。通过WDM-NF分析功能,可以同时测试多达1024通道的多路信号。通过每个WDM通道的曲线拟合功能,可以计算NF测量中的ASE功率。