品牌: NANOVEA

上一个:光学轮廓仪 Profilm3D

产品分绍

ST400型三维表面形貌仪是一款多功能的三维形貌仪,采用国际领先的白光共聚焦技术,可实现对材料表面从纳

米到毫米量級的粗糙度泗试,具有测量精度高,速度快,重复性好的优点,该仪器可用于测量大尺寸样品,并具有

多种选项,包含360°旋转工作台,原子力显镜模块,光学显镜,特征区域定位等多种功能模块。

产品特性

1.采用白光共聚焦色差技术,可获得纳米级的分辨率

2.测量具有非破坏性,测重速度快,精确度高

3.测量范围广,可测透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、

成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿,)

4.尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面

5.不受样品反射率的影响

6.不受环境光的影响

7.测量简单,样品无需特殊处理

8.Z方向,测量范围大:为27mm

主要技术参数

1.扫描范围:150mm×150mm(最大可选600mm*60mm)

2.扫描步长:0.1unm

3.扫描速度:20mm/5

4.Z方向测量范国:27mm

5.方向测量分辨率:2nm

产品应用

MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料,光学元件、陶瓷和先进材料的研发。