品牌: NANOVEA
上一个:光学轮廓仪 Profilm3D
产品分绍
ST400型三维表面形貌仪是一款多功能的三维形貌仪,采用国际领先的白光共聚焦技术,可实现对材料表面从纳
米到毫米量級的粗糙度泗试,具有测量精度高,速度快,重复性好的优点,该仪器可用于测量大尺寸样品,并具有
多种选项,包含360°旋转工作台,原子力显镜模块,光学显镜,特征区域定位等多种功能模块。
产品特性
1.采用白光共聚焦色差技术,可获得纳米级的分辨率
2.测量具有非破坏性,测重速度快,精确度高
3.测量范围广,可测透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、
成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿,)
4.尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面
5.不受样品反射率的影响
6.不受环境光的影响
7.测量简单,样品无需特殊处理
8.Z方向,测量范围大:为27mm
主要技术参数
1.扫描范围:150mm×150mm(最大可选600mm*60mm)
2.扫描步长:0.1unm
3.扫描速度:20mm/5
4.Z方向测量范国:27mm
5.方向测量分辨率:2nm
产品应用
MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料,光学元件、陶瓷和先进材料的研发。