SID4-NIR覆盖1.5μm至1.6μm的近红外区域。其专利技术可提供非常高的分辨率，确保精确测量。 并且还具有结构紧凑和易用性。
对于激光测量，SID4-NIR提供了详尽的表征：像差，M2强度分布，光束参数......
对于镜头测试，SID4-NIR是表征近红外镜头的完美工具。 它一次性提供波前像差和MTF。
产品特点：
l 高分辨率（160 X 120）
l 高效近红外解决方案
l 大数值孔径，无中继镜头，结构紧凑且对振动不敏感，易于集成到光学系统中
产品参数：
波长范围 | 1.5~1.6 µm |
孔径尺寸 | 3.6×4.8 mm2 |
空间分辨率 | 29.6 µm |
采样点（相位和强度） | 160×120 |
分辨率（相位） | ＜11 nm RMS |
精确度 | 15 nm RMS |
采样频率 | ＞60 fps |
实时处理频率 | ＞10 fps (full resolution) |
尺寸(W×H×L) | 44×33×57.5 mm |
重量 | 250 g |