SID-HR适用于光学计量需求。 它将SID4易于实现与超高分辨率相关联。 SID4-HR对整个物体表征进行瞬时测量。
它针对表面检测（粗糙度，高频缺陷...）和光学元件表征（透镜，物镜，非球面...）进行了优化。
高性能相机提高了激光表征的精度。
具有紧凑的300 x 400相位图采样使SID4-HR成为研究和工业中光学和激光的独特工具。
产品特点：
l 高分辨率(400 × 300)
l 高动态范围
l 在广域上进行瞬时测量
l 结构紧凑
产品参数：
波长范围 | 400-1100nm |
孔径尺寸 | 8.9×11.8 mm2 |
空间分辨率 | 29.6 µm |
采样点(相位和强度) | 300×400 |
分辨率（相位） | ＜2 nm RMS |
精确度 | 15 nm RMS |
动态范围 | ＞500 µm |
曲率半径范围 | 4 mm to +∞ |
曲率分辨率 | < 5.10-4 m-1 |
最大数值孔径 | 0.5 |
采样频率 | ＞30 fps |
实时处理频率 | 3 fps (full resolution) |
尺寸(W×H×L) | 54×46×79 mm |
重量 | ~250 kg |