模块器件老化测试系统
BI4201老化测试系统可实时监控的温度环境，对光器件（例如VCSELs、PIN 或APD）及收发模块进行老化测试。系统由老化板（测试夹具）、温箱、电源、控制检测及风扇系统组成。每块老化板独立供电和监控。且系统支持数据库，系统软件可以支持上传或下载老化数据，利用系统集成的“Quick Check”功能，可方便准实时查询每个模块或器件信息。 
同时为了确保系统可靠地在温箱内工作于-40~85℃，每块老化子板具有独立的温度传感器和风扇控制系统，系统会自动反馈检测到的电压及温度信息，调节风扇转速，确保整个温箱内部温度均匀性，同时实时监控在探测到失效条件下及时发出告警，并切断老化子板电源，以避免昂贵的器件及模块大面积失效。 

主要特点：
可集成温箱、电源、控制电路、LIV及基于数据库的系统软件；
标准系统支持同时测量384 pcs (O/E器件系统) 或 224 pcs (100G 收发模块系统)，同时可以根据用户空间和具体要求定制化；
具有标准的或用户自定义的夹具/老化板定制开发， 以最大化发挥系统的灵活性；
友好的用户使用界面，可以方便查询模块器件的信息机状、系统支持可编程的告警状态及提醒功能； 
图形化显示器件性能老化前后的劣化；
所有模块或器件支持特定参数设置:驱动电流、温度、老化时间等；
全部结果支持数据库记录和导出；