CoC老化系统
BI6201是专门针对激光器Chip、Bar条、裸Die和CoC器件的老化系统，采用框架及分离抽屉形式，支持实时可控的老化温度环境，专门设计的不同种类测试夹具，适合不同封装、不同尺寸的CoC器件大批量老化及测试。

主要特点：
每个抽屉独立温度控制、优化设计的热接触；
极佳的压力保护机制，使得应对各种不同突发条件，系统自身保护机制可以确保系统安全以及降低不必要的损失；
结构紧凑，便于使用及维护；
集成的解决方案，确保系统高品质同时具有极好的性价比；
以极大的灵活度，最大单系统支持1280pcs同时老化，数量根据用户要求及系统能力可以扩展;
很灵活的使用：包括老化、寿命及验证性能；
针对不同产品应用灵活配置夹具；标准夹具或用户定制化夹具；
简明的用户使用界面，可清楚获知每个器件的状态信息及温度;
程控告警状态和提示显示；
支持恒流源/恒压源模式；
温度、电流、电压可以独立设置；
所有测试结果及测试状态、异常状况都记录到数据库；
支持数据库数据存储及查询溯源测试结果；
支持在线LIV 测试(可选件)或LIV 扫面测试