Edmund DOF 5-15景深测试板  #1485

• 检测成像系统的景深

• 不需要计算，可直接读出数值

DOF 5-15景深测试板可把测量光学公差标准化，否则大部分情况下是靠理论计算的。我们的大量光学实践经验表明，通过理论计算的景深经常导致令人费解的结论。这个测试板解决了这个问题，可以精确的确定产生一个不能接受的图像时目标的偏移量。关于可以接受的清晰度，则要根据使用者和应用领域来确定。

DOF 5-15有两个刻度，每种刻度在45度观看的时候，有水平线和垂直线，密度为5和15线对/毫米。带用法说明。

森泉为您的科研事业添砖加瓦：

激光控制：激光电流源、激光器温控器、激光器控制、伺服设备与系统等等

探测器：光电探测器、单光子计数器、单光子探测器、CCD、光谱分析系统等等

定位与加工：纳米定位系统、微纳运动系统、多维位移台、旋转台、微型操作器等等

光源：半导体激光器、固体激光器、单频激光器、单纵模激光器、窄线宽激光器、光通讯波段激光器、CO2激光器、中红外激光器、染料激光器、飞秒超快激光器等等

光机械件：用于光路系统搭建的 gao 品 zhi 无应力光机械件，如光学调整架、镜架、支撑杆、固定底座等等

光学平台：主动隔振平台、气浮隔振台、实验桌、刚性工作台、面包板、隔振、隔磁、隔声综合解决方案等等

光学y件：各类晶体、光纤、偏转镜、反射镜、tou射镜、半透半反镜、滤光片、衰减片、玻片等等

染料：激光染料、荧光染料、光致变色染料、光致发光染料、吸收染料等等