简介：      

OCI-V是一款快速检测光学器件损耗、色散和偏振等相关参数的光矢量分析系统。其原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描，并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵，进而获得器件插损、色散、偏振相关损耗、偏振模色散等光学参数。该系统采用独特光路设计以及先进算法，实现智能校准，操作简单，极大节省测试时间，是一款实现光学器件损耗、色散和偏振测试分析的理想工具。

特点：

• 自校准

• 测量长度：200m

• 波段：C+L、O波段（可选）

• 秒内测量多种光学参数

应用：

• 偏振相关损耗PDL 

• 偏振模色散PMD 

• 插损IL 

• 群延时GD 

• 色散CD 

• 琼斯矩阵参数 

• 光学相位

光纤传感测量：

• 平面波导器件 

• 硅光器件 

• 光纤器件 

• 波长可调器件、放大器、滤波器