OCI是一款超高精度和分辨率的光学链路诊断仪，其原理基于光频域反射技术（OFDR），在50m测量范围内空间分辨率可达10μm，100m测量范围内空间分辨率可达20μm。该系统单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断，在待测光纤链路中可轻松查找并判别宏弯、连接点和断点，精确测量回损、插损、光谱等，事件点定位精度高达0.1mm。系统不仅可用于光学链路诊断，还可拓展分布式光纤传感功能，实现应变和温度高分辨测量。
产品特点
l 波长范围：1525~1625nm、1265~1340nm（可选）
l 空间分辨率：10μm@50m、20μm@100m
l 测量长度：100m（可定制升级）
l 自校准，无需人为干预，稳定性好
l 可扩展分布式温度、应变测量
l 支持软硬件定制，如网口通讯、远程控制、系统集成
l 光纤长度精确测量
l 硅光芯片测量
l 光谱、群延时测量
l 光器件、光模块测量
l 土木建筑结构健康监测
l 复合材料疲劳检测
l 汽车结构应变和温度检测
l 应变场与温度场重构领域