光束诱导电流成像检测系统（Light-Beam Induced Current—LBIC— mapping system）是一种高分辨、非直接接触的图象分析手段，通过不同激光波长的在半导体中的吸收距离和微区光电转换，可以表征光电子器件及太阳能电池微区的短路电流分布、表层缺陷、并联电阻、反射率等特性参数，并通过横向扫描（Mapping）形成图像，以反应各种参数的平面均匀性，尤其是晶界和位错分布，为光电子器件及太阳能电池的结构优化和工艺改进提供参考依据。本设备可以广泛应用到单晶硅、多晶硅、非晶硅、碲化镉、铜铟镓硒（CIGS）、有机半导体、染料敏化等各种传统和新型材料的太阳能电池研究，可以广泛应用到GaAs、InP、GaN光电子器件的研究，克服了大面积光照下I-V测试与单点光谱测试的不对应性和不准确性，大大提高了光电子器件诊断精度。

技术参数：

-- 样品尺寸：Max 100×100 mm2，Min 1×1 mm2

-- 激光波长：532也可根据材料的光吸收系数而自行选配320nm.405nm,633nm,785nm,808nm,980nm

-- 激光光斑：1.5um/5um/10μm/50μm/100um可选

-- 测试电流范围：1 μA–1 mA

-- 测试模式：LBIC，LBIV，内外量子效率，反射率，扩散长度，均为mapping成像

-- 扫描步长：0.02、0.05、0.1、0.2、1、2、4 mm（可根据实际需要自定义）

-- 扫描速度：15 points/s

-- 可进行单点或连续扫描（mapping）测试

-- 可选择锁相和斩波

-- 可选择源表或者万用表

系统功能：

（1）光束诱导电流：特定波长下光束诱导电流逐点扫描成像（LBIC-Mapping），逐点观察短路电流的均匀性、观察表层缺陷（表层厚度随波长吸收长度而定）。

（2）光束诱导电压：特定波长下光束诱导电压逐点扫描成像（LBIV-Mapping），逐点观察电压横向扩展的均匀性。

（3）光反射率：通过CCD探测反射光，测试光反射率。

（4）量子效率：逐点测量电池的外量子效率，内量子效率（测量内量子效率同时需要同时测量光反射率）

（5）扩散长度：根据内量子效率，逐点计算扩散长度，得到扩散长度扫描成像。