可靠性对于半导体激光器而言是最重要的因素，而相对于其他的电子设备，半导体激光器测试时需要对光学和电参数同时进行精确测量，同时，电流驱动的半导体激光器具有多种封装形式、功率级别，这使得半导体激光器的测试更为复杂。半导体激光器寿命测试是在生产过程中对部分产品进行的一种测试验证，寿命测试是在严格的控制条件下，通过高温来加速一批半导体激光器的老化。相对于寿命测试，而老化测试是所有半导体激光器在生产过程中都需要做的一个测试，用来确认或者去除一些在初始状态就有缺陷的产品。

ILX Lightwave®的寿命和老化测试设备LRS-9550

LRS-9550老化测试设备适用于高功率半导体激光器的老化和寿命测试。一个系统具有八个独立的温度控制层，可以同时测试512个高功率的激光器。系统可以同时进行多种独立测试，增加您的生产产量并节约成本。

LRS-9550的灵活性设计使得其可以支持多种封装形式的激光器。系统可以为每个被测试器件提供电流输出达30A，具有ACC,LIV两种测试模式。对于寿命测试来说，可以对每个夹具的温度进行单独控制，温度稳定性小于0.2℃，温度控制范围从25℃到85℃。恒定电流模式（ACC）下1000小时测量稳定性在0.2%左右，同时在整个测试过程中，持续监测激光器电压，输出光功率等参数。

LRS-9550 ReliaTest控制软件可以快速的启动和运行您的测试，不需要自己编程的前提下，可以对多种激光器的多种测试形式进行快速配置。软件具有强大的数据记录，数据备份以及预览等功能。ReliaTest的强大故障处理能力使得即使在断电的情况下，也不会丢失您的测试数据。