自动探针台FA-T01A产品特点

01、提供了清晰直观的触屏操作页面，手触点击即可完成对晶片的自动对位测试。

02、具有自动扫描对位功能，对位精度高、速度快，动态MAP图显示测试过程。

03、具有X、Y、Z三轴运动结构，操作软件能对垂直度、平面度进行精度补偿，保证机器的控制精度和工作的稳定性。

04、具有Z轴行程分段运动功能，其分为基本高度、接触高度、接触缓冲、过冲高度和折回高度，并且具有探边功能，防止测试过程中探针对芯片的划伤和探针与芯片的接触不良。

05、具有圆形测试，范围重测，探边测试，范围打点，回收测试，矩形测试和脱机打点多种测试功能。

06、具有实时打点、脱机打点和滞后打点功能。新型打点器，使用时间长达3天，不滴墨，省去60%的操作时间。