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EX1手动椭圆偏振测厚仪是基于消光法（或称“零椭偏”）椭偏测量原理，针对纳米薄膜厚度测量领域推出的一款手动教学仪器。

EX1 仪器适用于纳米薄膜的厚度测量、以及纳米薄膜的厚度和折射率测量。

EX1仪器还可用于测量块状材料（如，金属、半导体、介质）的折射率n和消光系数k。

仪器采用消光法椭偏测量原理，易于操作者理解和掌握椭偏测量基本原理和过程。

采用水平放置样品，方便样品取放。

集成一体化设计，精巧的仪器外形，方便地显示仪器测量过程中的光强信息。

采用激光作为探测光波，测量波长准确度高。

可测量纳米薄膜的膜厚和折射率、块状材料的复折射率。

手动完成测量，仪器软件辅助进行测量数据的分析。

利用本仪器，可通过适当扩展，完成多项偏振测量实验，如马吕斯定律实验、旋光测量实、旋光等。

EX1适合于教学领域，适用于单层纳米薄膜的薄膜厚度测量，也可用于测量块状材料的折射率n和消光系数k。

EX1可测量的样品涉及微电子、半导体、集成电路、显示技术、太阳电池、光学薄膜、生命科学、化学、电化学、磁质存储、平板显示、聚合物及金属表面处理等领域。

注：(1)测量重复性：是指对标准样品上同一点、同一条件下连续测量30次所计算的标准差。