Ultima 超快时间相关单光子计数荧光寿命测试系统

Ultima系列时间相关单光子计数(TCSPC)荧光寿命测试系统，针对短发光寿命的测试而优化设计，可测量低至5皮秒的寿命。专用FluoroHub A+电子设备，提供最佳的电子计时单元分辨（<400fs/点）和超低电子计时单元抖动（<3ps RMS）。

制造商: HORIBA Scientific

概要：

Ultima采用了全新高时间分辨率的TCSPC电子设备、可更换的高脉冲频率光源和检测器技术，以及我们高灵活的、提供超高性能光子计数寿命测量的FluoroCube光学平台。

多种脉冲光源和检测器可选，包括：

基于我们40年TCSPC制造经验，可与我们联系，为您的研究定制完美的荧光寿命测试系统。

荧光寿命测试系统，配置有发射单色仪(01)或激发与发射单色仪(11)以及半导体激光器

大型样品仓（匹配低温恒温器）
配备循环液体温度控制的样品池支架
自动化激发光路，自动化滤光片架，自动化偏振片底座*:：多种多样的可更换半导体激光器和基于LED的激发光源可选。
自动化发射光路, 自动化滤光片架，自动化偏振片底座*
发射单色仪(01,11模式)：TDM-800 Seya-Namioka类型，自动化波长驱动（200 nm至800 nm），一体化安全快门与样品舱盖联锁装置，狭缝宽度1至32 nm同步调节
激发单色仪（仅限11模式）：Seya-Namioka类型，自动化波长驱动（200 nm至800 nm），一体化安全快门与样品舱盖联锁装置，狭缝宽度1至32 nm同步调节。
DeltaDiode脉冲激光控制模块（软件控制）**
PPD-650型（230-700纳米波长）专有皮秒光探测模块（与样品舱盖联锁），PPD-850和PPD-900型分别可以将光谱范围扩展至850或920纳米。
FluoroHub A+电子计时单元，测量范围皮秒到秒（依赖于激发光源）
DataStation测量控制软件和DAS6衰减曲线分析软件
所有线缆和连接件
所供系统置于37 x 70 cm底板上。

*滤光片和偏振片为可选件**DeltaDiodeTM光源需要单独购置

超短发光寿命测量系统（5皮秒），配备发射单色仪、外部锁模激光器（钛蓝宝石激光器）和微通道板形光电倍增管检测器。

大型样品仓（匹配低温恒温器）
配备循环液体温度控制设备的样品池支架
自动化激发光路，自动化滤光片架，自动化偏振片底座*:：多种多样的可更换半导体激光管和基于LED的激发光源可选。
自动化发射光路, 自动化滤光片架，自动化偏振片底座*
发射单色仪(01,11模式)：TDM-800 Seya-Namioka类型，自动化波长驱动（200 nm至800 nm），一体化安全快门与样品舱盖联锁装置，狭缝宽度1至32 nm同步调节
用于外部锁模激光器的激光输入光路**
置于冷却外壳内的R3809-50型微通道板形光电倍增管检测器（与样品舱盖联锁）、紧密耦合的CFD-2G-A 皮秒计时放大器/鉴别器、Fluoro3PS型超稳定高速检测器电源。
FluoroHub A+电子计时单元，测量范围皮秒到秒（依赖于激发光源）
DataStation测量控制软件和DAS6衰减曲线分析软件
所有线缆和连接件
所供系统置于37 x 70 cm底板上。

*滤光片和偏振片为可选件**不包含激光器

短发光寿命测试系统，附带发射单色器、可更换的DeltaDiode半导体脉冲激光器和微通道板形光电倍增管探测器。

大型样品仓（匹配低温恒温器）
配备循环液体温度控制设备的样品池支架
自动化激发光路，自动化滤光片架，自动化偏振片底座*:：多种多样的可更换半导体激光管和基于LED的激发光源可选。
自动化发射光路, 自动化滤光片架，自动化偏振片底座*
发射单色仪(01,11模式)：TDM-800 Seya-Namioka类型，自动化波长驱动（200 nm至800 nm），一体化安全快门与样品舱盖联锁装置，狭缝宽度1至32 nm同步调节
DeltaDiode脉冲激光管模块（软件控制）**
置于冷却外壳内的R3809-50型微通道板形光电倍增管探测器（与样品舱盖联锁）、紧密耦合的CFD-2G-A 皮秒计时放大器/鉴别器、Fluoro3PS型超稳定高速检测器电源。
FluoroHub A+电子计时单元，测量范围皮秒到秒（依赖于激发光源）
DataStation测量控制软件和DAS6衰减曲线分析软件
所有线缆和连接件
所供系统置于37 x 70 cm底板上。

*滤光片和自动化偏振片为可选件**DeltaDiode光源需单独购买