Thorlabs 双折射成像系统 LCC7201B
内置633 nm LED光源
测量最大半波(316 nm)的样品延迟和最大±90°的方位角
Ø20 mm视场
LCC7201B双折射成像系统包含
MLS203P2样品支架
样品支架转接件,用于Ø1/2英寸、Ø1英寸和2英寸x2英寸光学元件
软件(详见软件标签)
可选配的样品安装配件下面有售
MSB2328(/M)面包板
MPSHA1载玻片支架插件或记录腔转接件
MPSH2和MPSH2SS载玻片支架插件
MLS203-1快速XY扫描位移台
LPXY1低剖面XY扫描位移台
LCC7201B双折射成像系统测量平坦样品中由应力和应变导致的双折射,可用于从材料和生物研究到产品质量保证的各种应用中(示例请看应用标签)。这套系统设计用于学术研究、医疗诊断、工业制造和产品质量保证。由于它基于液晶器件,所以内部没有机械运动,工作稳定并且没有振动。
标准成像系统的照明波长是633 nm。定制从488 nm到780 nm的波长请联系技术支持techsupport-cn@thorlabs.com。系统提供Ø20 mm视场,测量最大半波(316 nm)的延迟量和最大±90°的方位角。请在规格标签查看LCC7201B系统的规格。
LCC7201B系统包含Windows®软件包,提供用于系统控制和数据采集在内的所有功能。如需关于系统的软件特性和样品测量结果的详细介绍,请看上面的软件标签。
对于需要更高空间分辨率成像的应用,我们的CM50x Cerna®双折射成像显微镜可提供相同的延迟和方位角范围以及精度,使用随附的10倍物镜时具有1.055 μm空间分辨率。
森泉为您的科研事业添砖加瓦:
激光控制:激光电流源、激光器温控器、激光器控制、伺服设备与系统等等
探测器:光电探测器、单光子计数器、单光子探测器、CCD、光谱分析系统等等
定位与加工:纳米定位系统、微纳运动系统、多维位移台、旋转台、微型操作器等等
光源:半导体激光器、固体激光器、单频激光器、单纵模激光器、窄线宽激光器、光通讯波段激光器、CO2激光器、中红外激光器、染料激光器、飞秒超快激光器等等
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光学平台:主动隔振平台、气浮隔振台、实验桌、刚性工作台、面包板、隔振、隔磁、隔声综合解决方案等等
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