根据CIE NO.63指南要求,全光谱法测量各种光源及半导体发光器件的光谱功率分布(紫外、可见、近红外)、色品坐标、色温、显色指数、色容差、色偏差、颜色纯度和主波长、光通量、亮度、紫外辐射通量、辐射功率、光生物指数、发光效率等参数。
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