美国OEwaves公司的HI-Q光学测试测量系统提供了完全自动化地测量连续激光器或激光光源的超低相位噪声测量。这个光学测试测量系统能够快速地测量激光相位噪声,评估其线宽的半高宽度低至< 3 Hz,而无需复杂的测试架构和参考激光即可作这样的窄线宽测量。
以上信息由企业自行提供,信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责,光电汇对此不承担任何保证责任
温馨提示:为规避购买风险,建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量
如对产品存在的异议,请于20个工作日内与我们取得联系,我们将协调处理(下架或关闭店铺),联系方式:021-80198330
上海意桐光电科技有限公司所有 © 2014中国 上海 嘉定
沪ICP备 16039563号 -1
沪公安网备 31011402003710号