C-V/I-V特性测试仪是为半导体C-V特性分析测试和I-V特性测试分析设计的C-V/I-V测试系统。C-V/I-V特性测试仪具有较高的C-V测试精度,提供流线型C-V曲线和偏置温度压力程序,方便用户使用,点击鼠标就可测量C-V曲线,显示所有C-V曲线绘图和测试结果。密码保护功能允许使用人员预设所有C-V测试结果和压力测试周期。测试结果可保存起来用于后来分析。
以上信息由企业自行提供,信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责,光电汇对此不承担任何保证责任
温馨提示:为规避购买风险,建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量
如对产品存在的异议,请于20个工作日内与我们取得联系,我们将协调处理(下架或关闭店铺),联系方式:021-80198330
上海意桐光电科技有限公司所有 © 2014中国 上海 嘉定 沪ICP备 16039563号 -1 沪公安网备 31011402003710号