这款薄膜溶解测厚仪用于实时监测薄膜在液体中薄膜厚度变化和光学常量(n, k)变化,是全球领先的薄膜溶解测量仪和薄膜溶解测试仪。为了这种特色的测量,我们特意为薄膜溶解测厚仪研发了Teflon样品池用于测量薄膜样品,使用一种岔头探针水平安装在Teflon 样品池的外部,距离玻璃窗口非常接近,使用白光反射光谱技术(WLRS),实时测量薄膜厚度和折射率,并通过专业软件记录下这些数据。
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