P84为标准测微头与可产生高分辨率位移的压电陶瓷机构相结合,通过手动调节大范围的测微头实现13mm大范围的移动,再通过控制驱动电压,使压电陶瓷机构相应伸长或缩短到预定位置,从而实现对压电陶瓷驱动测微头高分辨率的精调节。
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