Profil3D光学轮廓仪进行表面粗糙度和表面形貌测量时,比探针式轮廓仪有更低的成本,但同样使用了当今最 高分辨率光学轮廓仪采用的白光干涉(WSI及相移干涉(PS测量技术,垂直分辨率可达次纳米级。 Profilm3D的直观 软件包括表面粗糙度,形状和台阶高度的测量,在数秒内,您可以获得平面和曲面表面形貌测量所有常见的粗糙度 参数。也可以选择拼接功能軟件来组合多个影像以提供大面积的测量
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