SID-HR适用于光学计量需求。 它将SID4易于实现与超高分辨率相关联。 SID4-HR对整个物体表征进行瞬时测量。它针对表面检测(粗糙度,高频缺陷...)和光学元件表征(透镜,物镜,非球面...)进行了优化。
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