从当下主流的机械硬盘,到未来的磁性存储单元,磁滞回线测量都是评估薄膜性质的重要手段。 相较于电学霍尔测量和震动磁强计,光磁克尔效应具有测量速度快,精度高,非侵入,且不需要对样品进行加工或切片等操作的特点。
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