屹持光电提供各种衰减全反射棱镜ATR Prism元件,用于全内反射测量。通常,当样品难以用透射分析时,使用反射光谱法。顶置ATR系统适用于凝胶、薄膜和细粉分析。使用不同的顶板ATR系统分析难以处理的易挥发或敏感样品。它们还用于提供温度敏感分析和聚合物膜迁移,以及表面取向和反应动力学研究。单反射ATR系统使用高吸收和小样本进行静态或流动分析。
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