法国PHASICS 的波前分析仪(上海屹持光电代理),基于其波前测量专利——四波横向剪切干涉技术(4-Wave Lateral Shearing Interferometry)。作为夏克-哈特曼技术的改进型,这种独特的专利技术将高分辨率和大动态范围结合在一起。任何应用下,其都能实现全面、简便、快速的测量。
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