MX 601 非接触电阻率测试仪,适用于测量直径最大150 毫米的晶圆。 MX601 可测量由半导体材料(如砷化镓或碳化硅)制成的晶圆的电阻率。无需准备晶片即可快速处理,具有出色的重复性,可最大程度避免压电效应。MX601 的串行接口允许进行数据评估和统计,以及访问校准常数和输出类型。
以上信息由企业自行提供,信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责,光电汇对此不承担任何保证责任
温馨提示:为规避购买风险,建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量
如对产品存在的异议,请于20个工作日内与我们取得联系,我们将协调处理(下架或关闭店铺),联系方式:021-80198330
上海意桐光电科技有限公司所有 © 2014中国 上海 嘉定 沪ICP备 16039563号 -1 沪公安网备 31011402003710号