A-TEEM光谱技术是指同时获取特定样品的吸光度、透射率和荧光激发发射三维矩阵 (A-TEEM)的能力。HORIBA凭借Aqualog专利系统开发了这项技术,该系统将A-TEEM光谱技术与多通道CCD检测相结合,提供了极其快速及准确的A-TEEM测试结果
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