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探针台手动测试晶圆忆阻器失效分析IV测试光电流测试Mapping架探针座
位移精度：3μm   漏电精度：100fA（三轴线缆+屏蔽箱）   光学放大倍数：270倍   Wafer尺寸：4/6/8/12寸   
指导价 ￥18000
产品品牌：
创谱仪器
交货周期：
1个月
产品简介：
在实际得科研生产中，由于样品/晶圆（Wafer）得尺寸越来越大，用于测试的探针台相当昂贵，我司根据客户市场应用自主研发的这款结构小巧，功能实用，成本较低的简易式探针台，在满足基本测试功能基础上，去除了非必要得部件，该探针台系统包含：光学成像部分，隔振平台，探针座，四维调整载片台（Chuck），真空吸附系统
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槐荫区德迈国际信息产业园科研楼12栋
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