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探针台手动测试晶圆忆阻器失效分析IV测试光电流测试Mapping架探针座
位移精度:3μm   漏电精度:100fA(三轴线缆+屏蔽箱)   光学放大倍数:270倍   Wafer尺寸:4/6/8/12寸   
指导价 ¥18000
产品品牌:
创谱仪器
交货周期:
1个月
产品简介:
在实际得科研生产中,由于样品/晶圆(Wafer)得尺寸越来越大,用于测试的探针台相当昂贵,我司根据客户市场应用自主研发的这款结构小巧,功能实用,成本较低的简易式探针台,在满足基本测试功能基础上,去除了非必要得部件,该探针台系统包含:光学成像部分,隔振平台,探针座,四维调整载片台(Chuck),真空吸附系统
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山东创谱光学仪器有限公司
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