多通道光功率及光谱测试系统是拓普光研自主研发的光学测试系统,该系统配合外配光谱仪可实现多个光路光功率和光谱信号的同时测量。该系统集测试、采集、计算、存储等功能于一体,省去了传统实验中需要反复插拔连通光路的繁琐步骤,有效的解决了光学测试中需要重复测量多个光路信号的问题。系统方便、实用、精度高,最多可同时测量 8 条光路通道,在企业单位和科研院校都有很好的应用。
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