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产品简介：采用专利最大最小搜索技术，PDL测试仪能在30ms内，同时测量待测器件的偏振相关损耗（PDL），插入损耗（IL）和光功率。使用扰偏法测量的PDL具有很高的不确定性。与这种方法不同，PolaCHEXTM有条理地搜索最大和最小透过率，确保了具有较高和较低PDL值的器件在任何时刻的测量精度，可获得最精确的PDL值。PolaCHEX覆盖了较宽的波长范围：1260~1650nm，无需波长校准，比基
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